Metrolodzy z całej Europy spotkali się dziś (wtorek, 13 maja) w Kielcach. W Muzeum Narodowym rozpoczęła się konferencja poświęcona sztucznej inteligencji.
Profesor Jacek Semaniak, prezes organizującego spotkanie Głównego Urzędu Miar informuje, iż wpisuje się ono w ciąg wydarzeń związanych z polską prezydencją w Unii Europejskiej. W konferencji uczestniczą najważniejsi przedstawiciele instytucji metrologicznych na Starym Kontynencie.
– Dwudziestu reprezentantów, szefów narodowych instytutów metrologii z państw UE, ale mamy też gości z Ukrainy i Kazachstanu. Mamy przedstawicieli i szefów najważniejszych organizacji metrologicznych w Europie i na świecie – informuje prezes GUM.
Mikko Merimaa, sekretarz generalny Eurametu, organizacji skupiającej instytucje metrologiczne w Europie mówi, iż wymiana doświadczeń i wspólne programy badawcze są korzystne dla wszystkich zaangażowanych stron.
– Europejskie kraje współpracują, mamy międzynarodowe partnerstwo. Takie partnerstwo w dziedzinie metrologii jest rozwijane. W europejski program badań zaangażowana jest Polska i Główny Urząd Miar. Teraz nowoczesna infrastruktura, która powstała w Kielcach, umożliwi GUM, polskim badaczom i oczywiście polskiemu przemysłowi rozwijać się jeszcze bardziej – tłumaczy.
Nieprzypadkowo tematem konferencji jest sztuczna inteligencja. Jak tłumaczy profesor Jacek Semaniak, bez tego narzędzia dużo trudniejsze byłoby między innymi analizowanie dużej ilości danych, co w metrologii jest powszechne.
Konferencja potrwa dwa dni, w środę goście będą mieli okazję zwiedzić świętokrzyski kampus laboratoryjny Głównego Urzędu Miar.
